軸類件光學測量系統 Opticline C1000系列

產品描述

德國業納Jenoptik 軸類件光學測量系統 Opticline C1000系列

1、高速
OPTICLINE 測量技術采用光電陰影成象原理全自動探測需測量的工件。由于單個測量值的測量分辨率高，所以整個工件輪廓的分析速度快，精度高。

2、高效

OPTICLINE 測量系統融入了我公司幾十年來在光學非接觸式軸類件測量系統領域積累的豐富經驗和知識，融合了我們強大的技術實力，是高效成熟產品的典范，即適合于操作工自檢，又可集成到生產線內用于百分之百的全檢。

3、多樣
OPTICLINE 測量系統品種繁多，為用戶提供了眾多的測量和分析可能。本系列產品可根據用戶需求給予靜態、傾斜或動態測量，并能按需集成到生產線內用于自動測量。

4、可靠
OPTICLINE 產品的性能，精度高，對周圍環境的敏感度低，所以多年來為全球用戶所青睞，到目前為止已有大量測量設備在全球各地安裝使用。

跳動和長度測量
opticline C1000 系列可選配一個接觸式探測系統而予以拓展，接觸式測量系統和光學測量系統天衣無縫地融合后便可測量端面跳動和長度，再加上不同的分析可能，所以一次測量便能對質量作出評價，
為光學測量系統提供了補充和巨大柔性。

應用實例

技術參數：

Opticline	CHR302	C203	C305	C310	C314	C505	C510	C514	C805	C810	C814	C1014	C1023	C1023-75AE
C1023-75AE
直徑	0.2-20	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-50	6-100	0.2-140	0.2-140	0.2-230	0.2-230	0.2-230
長度	250	250	300	300	250	550	550	500	850	850	800	1000	1000	1000
工件參數
直徑（mm）	150	150	150	150	150	150	150	150	150	150	150	300	300	300
長度*(mm)	250	250	300	300	280	550	550	530	850	850	830	1000	1000	1000
工件重量（N）	50	50	100	100	100	150	150	200	200	200	200	400	400	750
分辨率
直徑μm	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1/0.2	0.1/0.2	0.1/0.2
長度μm	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1	0.1/0.5	0.1/0.5	0.1/0.5
角度°	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.018	0.0018	0.018	0.018	0.0018	0.0018	0.0018	0.0005/0.001
測量精度	根據DIN EN ISO 10360 / VDI/VDE 2617標準允許的長度測量偏差
直徑μm	(2+D[mm]/100)
長度μm	(5+L[mm]/100)
重復精度	在磨削工件表面進行25次重復測量時典型的結果分散值
詳細參數請咨詢：020-36859701